伊利诺伊大学采用泰克仪器装备纳米制造实验室-计算机工程与设计

一、稿件要求： 1、稿件内容应该是与某一计算机类具体产品紧密相关的新闻评论、购买体验、性能详析等文章。要求稿件论点中立，论述详实，能够对读者的购买起到指导作用。文章体裁不限，字数不限。 2、稿件建议采用纯文本格式(*.txt)。如果是文本文件，请注明插图位置。插图应清晰可辨，可保存为*.jpg、*.gif格式。如使用word等编辑的文本，建议不要将图片直接嵌在word文件中，而将插图另存，并注明插图位置。 3、如果用电子邮件投稿，最好压缩后发送。 4、请使用中文的标点符号。例如句号为。而不是.。 5、来稿请注明作者署名(真实姓名、笔名)、详细地址、邮编、联系电话、E-mail地址等，以便联系。 6、我们保留对稿件的增删权。 7、我们对有一稿多投、剽窃或抄袭行为者，将保留追究由此引起的法律、经济责任的权利。二、投稿方式： 1、请使用电子邮件方式投递稿件。 2、编译的稿件，请注明出处并附带原文。 3、请按稿件内容投递到相关编辑信箱三、稿件著作权： 1、投稿人保证其向我方所投之作品是其本人或与他人合作创作之成果，或对所投作品拥有合法的著作权，无第三人对其作品提出可成立之权利主张。 2、投稿人保证向我方所投之稿件，尚未在任何媒体上发表。 3、投稿人保证其作品不含有违反宪法、法律及损害社会公共利益之内容。 4、投稿人向我方所投之作品不得同时向第三方投送，即不允许一稿多投。若投稿人有违反该款约定的行为，则我方有权不向投稿人支付报酬。但我方在收到投稿人所投作品10日内未作出采用通知的除外。 5、投稿人授予我方享有作品专有使用权的方式包括但不限于：通过网络向公众传播、复制、摘编、表演、播放、展览、发行、摄制电影、电视、录像制品、录制录音制品、制作数字化制品、改编、翻译、注释、编辑，以及出版、许可其他媒体、网站及单位转载、摘编、播放、录制、翻译、注释、编辑、改编、摄制。 6、投稿人委托我方声明，未经我方许可，任何网站、媒体、组织不得转载、摘编其作品。

伊利诺伊大学采用泰克仪器装备纳米制造实验室

作者:

关键词:

摘要：

2017年10月20日，泰克科技公司日前宣布，伊利诺伊大学香槟分校电气和计算机工程系购买了3台吉时利4200A-SCS参数分析仪及3个4200A-CVIV多功能开关模块，用于首个本科生纳米加工实验室，旨在为学生提供与微纳电子动手实践经验。4200A-SCS是一种全面集成的模块化参数分析仪，用来对材料、半导体器件和工艺进行电气特性测试。4200A-CVIV提供了一种错误检验方法，在DC和AC测量之间实现切换，并把AC测量传送到测试设备的任意端子。

伊利诺伊大学正在建立纳米制造实验室——阿提斯ECE大楼，建筑面积23万平方英尺，有20多间实验室，为学生提供电子和计算操作培训。该大学之所以在纳米制造铸造实验室中选择4200A-SCS，是因为其希望购买的设备能够立即投入使用，而使学生和新用户的培训达到最小。最新推出的4200A-SCS突出了易用性和以下功能：

1)内嵌YouTube类测量指引视频，包括中文、英文、日文和韩文，介绍了怎样设置、执行及调试测试，并包含各种应用指南和网上研讨会；

2)超过450项随时可以使用的、用户可以修改的应用及器件，快速提升测试计划开发工作；

3)可视化测试计划开发和测试排序工具；

4)集成置信度检查，用户可确保探头接触晶圆焊盘。

“实践证明，吉时利4200A-SCS提供了先进的参数测试功能与易用性的理想组合。”新实验室指导员兼协调员Dane Sievers说，“事实上，该仪器的操作非常直观易懂，甚至未经培训就能操作。”

4200A-SCS由以下几部分组成：源测量单元，用于I-V表征；电容-电压模块，用于AC阻抗测量；超快速脉冲测量单元，用于执行脉冲式I-V、波形捕获和瞬态I-V测量。通过4200A-SCS，研究人员或工程师可以测试关键参数，满足材料研究、半导体器件设计、开发或生产等需求。

“我们做了大量的工作，即使是以前没有参数分析仪经验的用户，4200A-SCS设置起来也非常简便，而且很容易学习。”泰克科技公司吉时利产品线总经理Mike Flaherty说，“4200A-SCS的易用性，使其特别适合伊利诺伊大学正在建设的这类教学实验室，以及在多个用户之间共享资源的半导体器件研究、器件故障分析和可靠性测试等应用。”

想知道泰克其他动态? 查看Bandwidth Banter博客，关注Twitter和Facebook，了解泰克最新消息。

1)内嵌YouTube类测量指引视频，包括中文、英文、日文和韩文，介绍了怎样设置、执行及调试测试，并包含各种应用指南和网上研讨会；

2)超过450项随时可以使用的、用户可以修改的应用及器件，快速提升测试计划开发工作；

3)可视化测试计划开发和测试排序工具；

4)集成置信度检查，用户可确保探头接触晶圆焊盘。

文章来源：《计算机工程与设计》网址: http://www.jsjgcysjzz.cn/qikandaodu/2020/0826/435.html